コラム・特集

3.7 工程管理一不良単位数

IEハンドブック

第8部 品質保証

第3章 品質管理

3.7 工程管理一不良単位数

C一管理図
場合によっては,検査のために個々の製品をといっても難しい場合がある.たとえば,電線の絶縁物に微小な穴があいているかどうかの検査である.不良が発生するかもしれない絶縁物上の場所の数を決め,それらがどこなのかはっきりさせることは不可能であろう。であるから,不良場所の割合を量で表わそうとするよりも,検査単位としてある長さを設定し,その長さの電線中にある不良の数をかぞえるほうがより論理的である。
このCで表わされる変数は,ポアソン分布に従う傾向がある。理論的には,C― 管理図の中心線は,C′ ,つまり検査単位ごとの不良の工程平均数であり,管理限界線は,C′ ± 3 σcである.ただし, σc=√C’である。実際には,もちろんC′ の値は通常知られていないので,C,つまり検査単位ごとの不良数の試料平均数(通常20の検査単位より計算される)により推定される。

そして試行管理限界線はこ± 3Scにおかれる.ただし,Sc=√ Cである。不良品数の管理にあたり,下方管理限界線を設ける主なる理由は,製造工程において,不注意な検査が行われたとか,工程上重要な改良が発生しているということをみつけだすためである。

20個のCの値が,管理図上に正しい順序でプロットされている。もし,いかなるCの値でも,管理限界線外にはずれるなら,その原因としてはっきりしたものがあるのかどうか判断する必要がある。

もし,その原因が分からないのなら,さらに多くのデータが必要であることを示している.もし原因があるのなら,限界線外のCの値は除かれ,残ったデータをもとにして,Cと管理限界線を再計算することができる。管理限界線がすべてのプロットを含むときは,そのプロット点が,ランダムな連鎖を形成しているかどうか見きわめることが必要である。このことは,プロット点のパターンを目で調べることにより,おおまかにできるし,連の検定によって統計的にすることができる(13部4章を参照)。以上の段階がすべて完了した後で,試行管理限界線は一応認めてよく,その管理図は,その工程を管理するために用いることが可能となる。追加のデータが集積するにつれて,当然,管理限界線は,さらに修正することができる。

U一管理図
時には,検査する製品量をある一定量に固定できない場合がある。これは,たとえば製品の全数検査が要求されるようなところでは,まさにその通りである というのは,生産量は日々,当然変化するだろうからである。

検査単位量は一定しており,おのおのの単位量は,不良点を発生するチャンスが等しいものと考え,このような単位量のK倍の量から検査対象量が構成されているものとして,サンプルを取り扱うほうが有利である。であるから,サンプル数Cごとの不良品の数は,検査単位量U=C/Kごとの平均不良数に変換できる。この方法によって,定数Uなる中心線(CL)をもつ管理図を作ることができる.UCLとLCLは,検査単位数が変化するにつれ,サンプルごとに変わるだろう。

UCL=U+3√ U/K
LCL=U-3√ U/K

U一管理図を組み立てる場合に,C―管理図で行ったのと同じ手続き上の考察が必要となってくる。

本コラムは絶版となっている「IEハンドブック(サルベンティ編・日本能率協会訳・1986)」をアーカイブとして掲載するものです。このハンドブックの各章は多くの事例と理論を通して生産性向上に対するアイデアを提供するべく専門家によって執筆されています。基盤をなしているIEの考え方・原則はインダストリアル・エンジニアリングにかかわるすべてのひとに有用でしょう。

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